Структурный анализ

Государственный центр «Белмикроанализ» аккредитован в Национальной системе аккредитации Республики Беларусь и является центром коллективного пользования с уникальным научным оборудованием и приборами. В ГЦ «Белмикроанализ» работают специалисты высокой квалификации, в том числе 1 доктор наук и 3 кандидата наук.

В состав ГЦ «Белмикроанализ» входят:

- группа электрофизических измерений
- группа технической экспертизы.
- группа растровой электронной микроскопии
- группа оптических измерений.

Основные направления исследований:

- анализ структуры и элементного состава изделий и материалов микроэлектроники масс-спектрометрией, эллипсометрией, ИК- спектроскопией, рентгеноспектральным анализом;
- прецизионные электронно-микроскопические измерения;
- получение оцифрованных, видеоизображений макро и микрообъектов, включая элементы интегральных микросхем (ИМС) с субмикронными проектными нормами;
- измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик элементов ИМС в диапазоне температур от -60 до +150 С;
- экстракция SPICE параметров элементной базы ИМС;
- анализ отказов ИМС.

Руководитель ЦКП:

к.ф.-м.н. Петлицкий Александр Николаевич

Адрес: 220108, г. Минск, ул. Корженевского,12

Контакты: тел. +375 17 343-18-14

e-mail: office@bms.by

ОАО "ИНТЕГРАЛ" также предлагает изготовление ИМС и полупроводниковых приборов на основе конструкции Заказчика (поставка по результатам функционального контроля), услуги полупроводникового производства - выполнение отдельных технологических операций или блоков операций (напыление металлов, осаждение пленок, выращивание эпитаксиальных слоёв, утонение обратной стороны пластины и т. п.), изготовление исходных кремниевых подложек по спецификации Заказчика, сборка и измерение приборов в пластмассовых и металлокерамических корпусах.